Jasper Display (U.S.A.):ジャスパーディスプレイ社 (米国):半導体メーカー
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3D AOI (アプリケーションノート) Jasper Display
3D AOIは、ステレオビジョン、点群、3次元三角形分割などのさまざまな手法を使用されます。 3DAOIシステムの主な機能は、画像取得、解析、画像処理です。 画像取得には、画像センシング、画像データの表現、デジタル化が含まれます。 画像処理は、適した形式を生成するためにデジタル画像のピクセル値の補正および準備です。 写真はマシンビジョンシステムの典型的な光学構造を示しています。次の図は、マシンビジョンシステムの典型的な光学システムを示しています。 AOIシステムの一般的な投影設計は、影の領域を最小限に抑えるために使用されます。
反射型空間光変調器(L-CoSなど)で構成される光コントローラを用いた光学系は、回路基板の領域を単一の異なる方向から照射し、パターンを調整することができます。このパターンを調整するためにマクロ的に可動させる機器は必要ありません。
3D AOIシステムは、産業向け検査のパフォーマンスを向上させるために使用され、検査プロセスのより完全な自動化によって精度と効率を向上させることができます。 Jasper Display社は、マシンビジョンなどを含めたさまざまなカスタマイズされたアプリケーションにサービスを提供します。小さなピクセルピッチと高いフィルファクターにより、Jasper Display社のL-CoSデバイスは、位相変調、回折光学素子、その他の「構造化光」アプリケーションなど、さまざまなアプリケーションをターゲットにしています。
L-CoSデバイスは、3D自動光学検査(AOI)を容易にする空間光変調器として利用できます。機能は次のとおりです。
- L-CoSには、振幅と位相変調方式の両方に対応するマイクロディスプレイがあり、フィールドレートは1KHz以上です
- L-CoS(プロダクションHD)デバイスは、200Mピクセルを備え、60フレーム/秒のビデオ入力をサポートし、高いピクセル処理速度を備えています(例:2Mピクセルx 720フレーム/秒)
L-CoSには、マルチレベル位相変調を正確に制御できるという利点があります(独自の変調方式により、256 RMSの電圧レベルで8ビットの制御が可能)。
自動光学検査(AOI)
自動光学検査(AOI)は、プリント回路基板(PCB)(またはLCD、トランジスタ)製造の自動目視検査で、カメラが対象ワークをスキャンして、重大な欠陥(部品欠落など)と品質欠陥(形状、部品歪みなど)の両方を検出します。非接触検査法であるため、製造工程で一般的に使用されております。ベアボード検査、はんだペースト検査(SPI)、リフロー前およびリフロー後など、各製造工程で実施されます。
SMT検査
コンポーネントを備えたPCBボードのAOIは、次の機能を検査できます。
- エリア欠陥
- ビルボーディング
- オフセット
- 部品の有無
はんだ接合 - 高さ計測
- 貼り合わせ
- はんだブリッジ
AOIは、SMTラインは、ポストペースト、プリリフローとリフロー後、ウェーブ領域で使用が可能です。
ベアPCB検査
ベアPCBボード検査のAOIは、次の機能を検出することができます。
- 線幅
- ピッチ
- 過剰な銅
- 不測のパッド
- 短絡
- 穴の破損
この検査は、手動の目視検査よりもはるかに信頼性が高く、信頼性があります。
多くの場合、回路基板設計が小さくなり、AOIとインサーキットテストの需要が高まっております。